浅析影响射线底片质量的因素
   来源:中国科技博览     2021年08月26日 06:52

第三章 射线照相质量的影响因素.ppt

符志平

[摘 要]无损检测中,常用方法之一为射线检测技术,形成检测结果后,直接载于底片上,检测人员通过观察、分析底片呈现的图像,形成检测结果,基于此,底片质量十分重要,检测人员必须要在明确影响射线底片质量因素的基础上科学的控制,保证底片质量符合要求,提升检查结果的准确性与可靠性。本文在介绍射线底片常见缺陷类型的基础上,分析了影响射线底片质量的因素,并简要的制定了控制底片质量的对策,期望提高实际射线检测中的底片质量。

[关键词]射线底片;质量;影响因素;

中图分类号:TM426 文献标识码:A 文章编号:1009-914X(2017)14-0322-02

1 引言

近年来,随着射线检测技术的發展,其所应用的领域越来越广泛,如核电、石油化工行业、航空航天、铁路、船舶制造、特种设备行业等,而且发挥的作用也越来越重要。由于核的特殊性,相对于其他能源形式,核电对安全的要求更是重中之重。且核电无损检测处在一个辐射环境中,这使得我们对无损检测的质量有着更为严格的要求。

目前,射线检测技术在这些领域中检测的主要对象均为关键部件,十分注重检测结果的准确性,而底片作为体现检测结果的载体,其质量受到业界的广泛关注。射线检测过程中,一旦底片质量不合格,不仅会延长检测工程项目的工期,同时会浪费一定的人力、无力及成本,基于此种影响,必须要准确的掌握对底片质量产生影响的因素,从而有针对性的防控,保证底片质量,提升检测结果的准确性及可靠性。

2 射线底片常见的缺陷类型

应用射线检测技术检测被检零件时,常见的底片缺陷类型包含以下几种:第一,衍射斑纹,呈线状、羽毛状,比较常见于铝与不锈钢对接焊接时的接头底片上,由于斑纹并不具备相同的大小,也为按照定律分布,易混淆于其他的缺陷,使检测难度提升,降低分析结果的准确性;第二,深孔缺陷,通常,射线检测对象均具备一定的特殊性,深孔缺陷发生后,因致密性问题的存在,会增加设备使用时的危险性,因此,应重点检测深孔缺陷;第三,增感屏伪缺陷,损坏或污染增感屏后,改变局部的增感性能,影响底片质量,如损坏类型为裂纹或划伤时,黑色伪缺陷影像会存在于底片上;第四,叠孔,射线照相投影过程中,影像重叠可能会发生,导致黑度重叠,不利于准确分析检测结果;第五,水迹,水质和底片未能彻底的干燥时,水迹非常容易残留在底片上,而且任何地方均有可能发生水迹残留,影响底片质量及检测结果的准确性[1]。

3 影响射线底片质量的因素

3.1 射线照相灵敏度

对射线底片质量评价过程中,射线照相灵敏度是一项最为重要的指标。射线照相灵敏度的概念可从两个方面阐述,在定量方面,是指射线底片上能够观察到的最小的细节或是缺陷尺寸;在定性方面,是指比较容易或较难的发现微小细节或影响,即观察的难易程度。实际上,射线照相灵敏度属于多项因素综合作用的结果,主要包含射线照相对比度、不清晰度及胶片颗粒度。射线检测过程中,检测人员的技能水平、操作经验,仪器设备等均会影响射线照相的灵敏度,尤其是检测人员,当其技能水平比较低、操作经验不足时,会降低射线照相的灵敏度,进而造成射线底片质量降低。

3.2 射线照相黑度

射线检测过程中,影像质量基础即为黑度,如果黑度与相关要求并不符合,那么会在一定程度上影响缺陷检测结果。众所周知,曝光量以焦距为两个主要的影响射线照相黑度的因素,若存在过大的曝光量,或存在过小的焦距,都会造成黑度偏大。通过胶片特性曲线可知,黑度密切相关于胶片梯度,二者之间呈正相关,即黑度降低后,胶片梯度也随之降低,射线底片的对比度要想充足,需要具备较大的胶片梯度,由此,黑度也不可过小[2]。另外,观片灯亮度对黑度之间也存在相应的限制,使得黑度不可太大。基于上述论述可知,射线检测时,假如检测人员未能严格、合理的控制射线照相黑度,会导致射线底片质量变差。

3.3 几何不清晰度

底片上,对影像轮廓明锐程度评价时,采用的指标即为不清晰度,几何不清晰度及固有不清晰度为影响不清晰度的两个主要因素。通常,射源尺寸一定,因此,透照工件过程中,半影效应会存在,底片体现缺陷边缘时,一定半影宽度会产生,这就是几何不清晰度。由此可见,射线检测中,为使几何不清晰度值减小,需要将距离减少、透照焦距增加,同时使用的射线源应具有较小的焦点尺寸。实际工作期间,胶片与工件表面之间的距离如果比较大,就无法实现几何不清晰度值的减小,降低射线底片的质量。胶片乳剂层中,电子会产生散射作用,引起固有不清晰度,胶片类型、增感屏类型等均会影响固有不清晰度值[3]。尽管几何不清晰度与固有不清晰度共同组成了总不清晰度,但综合结果并非是二者简单相加,决定者为二者中较大的。以下为几何不清晰度的计算公式:

射线检测几何不清晰度Ug值计算如下由图1可得:

Ug=d0L2/F-L2=d0L2/L1 (1)

式中L2—工件表面到胶片间的距离;

L1—射线源至工件表面的距离;

d0—焦点尺寸;

F—射线源至胶片间的距离。

由(1)可知,焦距F越大,Ug值越小,底片上的影像越清晰。从公式中还可以看出,为了减小Ug值,选择较小的射线源尺寸d0,可得到与增大焦距F相同的效果,因此在实际检测透照中选择焦距时,焦点尺寸是需要同时考虑的因素[4]。

3.4 暗室处理的影响

暗室处理工作主要包含两个方面,一方面为显影操作,一方面为定影操作,这两项工作均对射线底片质量产生一定的影响。在显影操作过程中,显影液要想发挥显影作用,必须要将胶片保护膜渗透,达到乳剂层,为能均匀的显影,显影处理需要手工进行,操作者操作过程中,如出现操作不当,或未按照规定流程操作,会导致显影效果受到较大的影响,降低射线底片质量。同时,显影操作时还需要对时间、温度等进行严格的控制,一旦某个环节出现失误,即会造成射线底片质量变差。在定影操作过程中,其注意事项相同于显影操作,通常,定影温度、定影时间、定影液老化程度、定影操作均会对定影过程产生不同程度的影响,操作人员操作过程中,如果出现操作不当,或控制不到位,极易影响射线底片质量。

4 控制射线底片质量的措施

4.1 提升检测人员的综合素质

射线检测过程中,检测人员的综合素质会直接的影响底片质量,因此,检测机构应定期开展检测人员培训工作,培训内容结合以往射线检测工作中常见的影响射线底片质量的因素,有针对性的设计培训内容,如控制射线照相灵敏度、黑度及不清晰度的方法、去除影响射线底片质量的技巧等,提升检测人员的控制能力,提升射线底片质量。除检测机构组织的培训外,还可以委托专业的培训机构实施培训,培训完成后所有检测人员参与技能考核,合格之后继续上岗,如不合格则继续参与培训,直至合格为止[5]。此外,培训过程中还应注重职业道德、责任意识的培养。

4.2 科学开展暗室处理工作

第一,检验安全红灯的安全性。在胶片上切取一条,放置在日常切状胶片工作与红灯距离最近的位置,利用黑纸遮盖一半,红灯照射暴露的剩余部分,暴露时间应超过最长的切装胶片时间[6]。随后,胶片处理时依据工作程序进行,对两边的黑度做出测量。暴露部位黑度在0.05以下时,说明红灯安全。

第二,胶片入厂复验。胶片入场后,质量复验工作应在30d内开展,灰雾度的抽验、一般质量为主要的检查对象。抽取胶片时,以随机的方式,在各个批次肿分别抽取一张,切取后对灰雾度做出检测,透照处理其他部分。以出厂标准规定值为参照,灰雾度应低于该数值,同时,气泡、白点等问题也不应存在于透照底片中。

第三,显影液有效性试验。胶片选取一条,对其进行透照,透照时采用的为标准试板,参数与条件选择曝光曲线给出的,暗室处理过程种,严格按照规定程序进行,之后对底片黑度做出检测,黑度值的误差在±15%以内时,表明试验有效。

5 结论

综上所述,射线检测过程中,照相灵敏度、黑度、不清晰度,暗室处理等均会影响射线底片的质量,应针对存在的影响因素,制定综合性的控制措施,最大限度的降低影响因素的影响,提升底片质量,保证射线检测结果具有比较高的准确性及可靠性,有效的发现被检零件的缺陷。

参考文献

[1] 郭光辉.施工现场暗室温度对射线底片质量的影响[J].无损检测,2015,(12):24-27.

[2] 陶亮.影响X射线底片评定的几个因素的探讨[J].山东工业技术,2014,(23):286.

[3] 陈洪旭.射线检测暗室处理对射线底片质量的影响因素及控制措施[J].中小企业管理与科技(上旬刊),2014,(07):323-324.

[4] 赵加冠,杨恒亮,王聪.环焊缝单壁外透法射线检测几何不清晰度分析[J].无损探伤,2010,34(5):40-41.

[5] 邱继亮.如何提高工业射线底片的洁净度[J].科技创新导报,2013,(26):51+53.

[6] 張文杰.暗室处理对射线底片质量的影响[J].无损探伤,2014,(02):33-35.

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